高密度光纤互连的发展

http://tech.ddvip.com   2006年04月05日    社区交流 收藏本文

本文详细介绍高密度光纤互连的发展

  图2 MT套箍(略)

  MT套箍由多个厂商提供,分为多模(MM)和单模 (SM) 公差等级。同样,光缆也由不同厂商提供,在存储和网络领域已应用多年。

  关键属性

  准直由导向孔直径为0.7 mm的精确定位孔保证。光纤准直的基准位于部件中心,从而使公差累积最小,而且导向孔之间的距离不会影响基准的位置。定位销和插针材料的弹性可适应生产公差的变化,但材料和成型技术的进步已经使这些公差非常小。

  实现低插入损耗的关键是测量光纤孔确切位置的能力。MT插针的平面与导向孔垂直。这样有助于检查,因为所有组件都位于同一平面,而且导向孔是圆形。抛光工艺消除了某些插针材料,因此,要保证确切位置位于表面下方100微米或更多。这对于SM套箍尤其重要,因为抛光工艺会产生一个8度角。而对于多列套箍来说,这一点更为重要,因为列之间的8度角会造成70微米的高度差。

  72光纤

  图3 72光纤MT套箍(略)

  图4 泰科电子PARA-OPTIX72通道MPO型连接器(略)

  目前,72光纤MPO仅用于多模光纤。然而,根据发展趋势和过去的应用,SM应占主导地位。MPO连接器可提供12条光纤的正向接触。此外,72光纤MPO配有稍微修改的弹簧,为光纤带的堆叠提供了更大的空间,并且增加了正面压力,因为它含有更多的光纤。即使如此,利用更多光纤实现PC性能仍要求更精确地控制抛光工艺,以确保更好的共面性。泰科电子在抛光工艺和高密度连接器开发方面进行了大量的开发工作(见图4)。这一点通过抛光工艺和装置上控制,并通过用干涉测量方法的端面扫描进行验证(见图5)。

  
  图5 72光纤MT套箍的端面扫描(略)

  图6 测量端面几何数据的设备(略)

  目前已经有正在开发的基础设施用于支持光缆厂商,例如,测量端面几何数据的专用仪器和多通道插入损耗测试仪(见图6)。这种设备来自于测量少量光纤插针的系统,配备了必要的光纤视角测量仪器和软件,用于一次测量所有72条光纤。

来源:泰科电子    责编:豆豆技术应用

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