光元件系统性能经济和精确的测量技术

　　当设计一个通讯系统时现有的系统集成商和元件制造商所共同困扰的问题是传输系统的性能。成功的通讯系统能够以尽可能低的成本和最大的传输距离实现信息比特的传输。光链路中的每一个光器件均会对光通信系统中的光信号产生影响，然而，仅仅知道系统中每一个单独元件的性能，就要精确确定系统的性能是远远不够的，可以说是很难的。

　　在过去，设计工程师们依赖两种途径来确定系统的性能：构造原型系统或者纯粹地依赖系统模拟来假设每一个元件的运作情况。构造系统原型的方法因其成本高昂而通常不会被采用，而系统模拟由于并不精确也不能获得可靠的结果，因此人们一直在寻找一种成本低廉且又测量精确的测量方案。

　　将元件测量和系统模拟联合起来可以确定系统的临界性能参数，而且这种方法无需器件模型，同时又去除由纯粹模拟引起的参数不确定性。这将使那些工程师专注于解决常常存在的隐患，加快产品研发速度。同时这种方法将测量和模拟集合在一起，从而帮助系统制造商们使用相同的设备快速地评估一个元件对系统整体设计的影响，而无须购买元件或者建造相关的原型。结果将大大缩短设计周期，制定出严密的系统规格，从而减少工程安装时间，减少成本，增加产品竞争力。而这种从元件数据测量到系统性能模拟的能力可以确保设计者们详细说明元件与系统性能的关系，而不是一味地说明纯粹的端对端特性。这将增加元件的价值并且可以更容易地将新的系统推向市场。例如，制造商们现在可以用数据显示的方式来了解色散补偿模块如何将色散损失最小化的，这比以前利用一个群时延波纹图像来描述要精确的多。又或者，制造商们可以详细描述一个千兆以太收发器在给定光纤色散值窗口时的比特误码损失，取代了先前仅仅描述Gbit/s调制下的光谱展宽。