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电路所有文章 页面刷新时间：2010-03-15 12:14:36

为存储器测试开发低成本的解决方案

阅读全文 2010-01-11 03:35:51

相变存储器：能实现全新存储器使用模型的新型存储器

阅读全文 2010-01-05 18:59:52

非易失性半导体存储器的相变机制

阅读全文 2009-12-19 10:16:24

驱动器自动加锁保护数字内容存储安全

阅读全文 2009-12-18 10:58:04

基于PCI Express接口的数据采集存储系统设计

阅读全文 2009-12-12 22:53:23

基于USB存储技术的电子语音记录系统的设计方案

阅读全文 2009-12-08 15:59:37

基于固态存储器的ECC算法分析及实现

评价存储器的一个重要指标就是它的可靠性，在一般的数据存储中，几个位的错误可能不是很关键的问题，如果但是发生在某个敏感的数据上，这个小小的故障可能会导致严重的后果。因此，必须采取一些措施来及时检出并纠正出错的数据。目前常用的方法有：奇偶校验、CRC校验、重复码校验等。

阅读全文 2009-11-27 17:09:56

基于USB的存储设备信息安全防护设计

本文在分析了磁盘读写技术的基础上，采用对磁盘驱动器进行过滤的方法，给出了基于过滤驱动的USB存储设备的单向控制方法。这种技术的实现能有效解决涉密信息的外泄，是内网安全的一种重要辅助手段。

阅读全文 2009-11-20 17:31:35

DDR SDRAM基本原理详细介绍

DDR能够凭借着转产成本优势来打败昔日的对手RDRAM，成为当今的主流。由于SDRAM的结构与操作在上文已有详细阐述，所以本文只着重讲讲DDR的原理和DDR SDRAM相对于传统SDRAM（又称SDR SDRAM）的不同。

阅读全文 2009-09-08 18:37:39

一种数字射频存储器的设计

数字射频存储器是一种对射频信号采样、存储、运算然后转发的电子部件。DRFM对样本信息保存下来后，根据需要加入调制信息；再通过高速DAC转发出去，实现对目标的有效干扰。

阅读全文 2009-08-03 20:33:31

FLASH存储器的测试方法研究

文本在简单介绍FLASH芯片的结构与特点之后，说明了FLASH存储器测试程序原理。在此基础上，分析和改进了几种通用的存储器测试方法，使之能有效地应用于FLASH测试中。这些方法简单高效，故障覆盖率高，并且可以快速预先产生，与其他一些测试算法［4］[5]相比，更适于应用在测试仪中进行工程测试。

阅读全文 2009-07-22 22:46:19

基于CF卡的特定FAT文件系统的设计与实现

本文所采用的CF卡就是其中一种工业上采用较多的固体存储介质方案。此外，在本系统中，采用的是FPGA+软核CPU作为控制核心。在存储的数据文件方面，则采用了可以与普通PC相兼容的经过了特殊处理的FAT32文件系统。

阅读全文 2009-07-22 16:46:19

容错系统中的自校验技术及实现方法

自校验技术是用于故障快速检测的一种有效手段，特别是具有完全自校验性质的自校验装置，它不仅能及时检出系统模块的差错，还能检测出自身的差错。在容错系统设计中，将自校验网络置于系统中，可大大提高系统对差错的反应能力，使差错潜伏期缩短，有效地防止错误传播。

阅读全文 2009-07-17 03:00:48

基于CMOS阈值电压的基准电路设计

在数／模混合集成电路设计中电压基准是重要的模块之一。针对传统电路产生的基准电压易受电源电压和温度影响的缺点，提出一种新的设计方案，电路中不使用双极晶体管，利用PMOS和NMOS的阈值电压产生两个独立于电源电压和晶体管迁移率的负温度系数电压，通过将其相减抵消温度系数，从而得到任意大小的零温度系数基准电压值。

阅读全文 2009-07-06 12:55:02